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Backscattered Scanning Electron Microscopy and Image Analysis of Sediments and Sedimentary Rocks
de David H. Krinsley; Kenneth Pye; Sam Boggs Jr; N. Keith Tovey
- Usado
- good
- Tapa dura
- Estado
- Good
- ISBN 10
- 0521453461
- ISBN 13
- 9780521453462
- Librería
-
HOUSTON, Texas, United States
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Sobre este artículo
Cambridge University Press, 1998-07-13. Hardcover. Good.
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Detalles
- Librería
- Ergodebooks
(US)
- Inventario del vendedor #
- SONG0521453461
- Título
- Backscattered Scanning Electron Microscopy and Image Analysis of Sediments and Sedimentary Rocks
- Autor
- David H. Krinsley; Kenneth Pye; Sam Boggs Jr; N. Keith Tovey
- Formato/Encuadernación
- Tapa dura
- Estado del libro
- Usado - Good
- Cantidad disponible
- 1
- ISBN 10
- 0521453461
- ISBN 13
- 9780521453462
- Editorial
- Cambridge University Press
- Lugar de publicación
- Cambridge
- Fecha de publicación
- 1998-07-13
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