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Characterization and Metrology for ULSI Technology 2005 (AIP Conference Proceedings / Materials Physics and Applications)
de David G. Seiler (Editor), Alain C. Diebold (Editor), Robert McDonald (Editor), Caroline R. Ayre (Editor), Rajinder P. Khosla (Editor), Stefan Zollner (Editor), Erik M. Secula (Editor)
- Usado
- Tapa dura
- Estado
- Used:Good
- ISBN 10
- 0735402779
- ISBN 13
- 9780735402775
- Librería
-
HOUSTON, Texas, United States
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Sobre este artículo
American Inst. of Physics, 2005-09-29. 1. Hardcover. Used:Good.
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Detalles
- Librería
- Ergodebooks
(US)
- Inventario del vendedor #
- DADAX0735402779
- Título
- Characterization and Metrology for ULSI Technology 2005 (AIP Conference Proceedings / Materials Physics and Applications)
- Autor
- David G. Seiler (Editor), Alain C. Diebold (Editor), Robert McDonald (Editor), Caroline R. Ayre (Editor), Rajinder P. Khosla (Editor), Stefan Zollner (Editor), Erik M. Secula (Editor)
- Formato/Encuadernación
- Tapa dura
- Estado del libro
- Used:Good
- Cantidad disponible
- 1
- Edición
- 1
- ISBN 10
- 0735402779
- ISBN 13
- 9780735402775
- Editorial
- American Inst. of Physics
- Fecha de publicación
- 2005-09-29
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