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Particle Characterization in Technology: Volume II: Morphological Analysis
de John Keith Beddow, ed
- Usado
- Tapa dura
- Estado
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- ISBN 10
- 0849357853
- ISBN 13
- 9780849357855
- Librería
-
Cleveland, Ohio, United States
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Sobre este artículo
Crc Pr I Llc, 1984. 265 pp., hardcover, minor library markings else text clean & binding tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
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Detalles
- Librería
- Zubal Books
(US)
- Inventario del vendedor #
- ZB1221441
- Título
- Particle Characterization in Technology: Volume II: Morphological Analysis
- Autor
- John Keith Beddow, ed
- Estado del libro
- Usado
- Encuadernación
- Tapa dura
- ISBN 10
- 0849357853
- ISBN 13
- 9780849357855
- Editorial
- Crc Pr I Llc
- Lugar de publicación
- Boca Raton, Florida
- Fecha de publicación
- 1984
- Palabras clave
- Particle Characterization htz
Términos de venta
Zubal Books
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Sobre el vendedor
Zubal Books
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Cleveland, Ohio
Sobre Zubal Books
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Glosario
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