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Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies (Hb 2009)

Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies (Hb 2009)

Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies (Hb 2009)
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Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies (Hb 2009)

de Strong

  • Usado
  • Muy bueno
Estado
Muy bueno
ISBN 10
0471731722
ISBN 13
9780471731726
Librería
Puntuación del vendedor:
Este vendedor ha conseguido 5 de las cinco estrellas otorgadas por los compradores de Biblio.
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Detalles

Librería
indianaabooks US (US)
Inventario del vendedor #
9780471731726
Título
Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies (Hb 2009)
Autor
Strong
Estado del libro
Usado - Muy bueno
Cantidad disponible
1
Encuadernación
Tapa dura
ISBN 10
0471731722
ISBN 13
9780471731726
Editorial
IEEE Press | Wiley
Lugar de publicación
Piscataway, NJ
Primera fecha de publicación de esta edición
2009
LCCN
2011377262

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