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Single Electron Spin Measurements in Submicron Si Mos-Fets Random Telegraph Signal, Single Electron Spin Resonance
de Ming Xiao
- Nuevo
- Tapa blanda
- Estado
- New
- ISBN 10
- 3836493756
- ISBN 13
- 9783836493758
- Librería
-
Southport, Merseyside, United Kingdom
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Sobre este artículo
Paperback / softback. New.
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Detalles
- Librería
- The Saint Bookstore (GB)
- Inventario del vendedor #
- B9783836493758
- Título
- Single Electron Spin Measurements in Submicron Si Mos-Fets Random Telegraph Signal, Single Electron Spin Resonance
- Autor
- Ming Xiao
- Formato/Encuadernación
- Paperback / softback
- Estado del libro
- Nuevo New
- Cantidad disponible
- 10
- Encuadernación
- Tapa blanda
- ISBN 10
- 3836493756
- ISBN 13
- 9783836493758
- Editorial
- Vdm Verlag Dr. Müller
- Primera fecha de publicación de esta edición
- 2008-12
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