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Single Electron Spin Measurements in Submicron Si MOS-FETs: Random Telegraph Signal, Single Electron Spin Resonance
de Ming Xiao
- Usado
- Tapa blanda
- Estado
- Used:Good
- ISBN 10
- 3836493756
- ISBN 13
- 9783836493758
- Librería
-
HOUSTON, Texas, United States
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Sobre este artículo
VDM Verlag Dr. Müller, 2008-12-18. Paperback. Used:Good.
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Detalles
- Librería
- Ergodebooks (US)
- Inventario del vendedor #
- DADAX3836493756
- Título
- Single Electron Spin Measurements in Submicron Si MOS-FETs: Random Telegraph Signal, Single Electron Spin Resonance
- Autor
- Ming Xiao
- Formato/Encuadernación
- Tapa blanda
- Estado del libro
- Used:Good
- Cantidad disponible
- 1
- ISBN 10
- 3836493756
- ISBN 13
- 9783836493758
- Editorial
- VDM Verlag Dr. Müller
- Fecha de publicación
- 2008-12-18
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