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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
de Wang, Laung-Terng; Wu, Cheng-Wen; Wen, Xiaoqing; Abdel-Hafez, Khader S. [Contributor]; Bhattacharya, Soumendu [Contributor]; Chatterjee, Abhijit [Contributor]; Chen, Xinghao [Contributor]; Cheng, Kwang-Ting (Tim) [Contributor]; Eklow, William [Contributor
- Usado
- good
- Tapa dura
- Estado
- Good
- ISBN 10
- 0123705975
- ISBN 13
- 9780123705976
- Librería
-
Franklin Lakes, New Jersey, United States
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Sobre este artículo
Morgan Kaufmann, 2006-07-21. Hardcover. Good. Textbook, May Have Highlights, Notes and/or Underlining, BOOK ONLYNO ACCESS CODE, NO CD, Ships with Emailed Tracking
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Detalles
- Librería
- SGS Trading Inc
(US)
- Inventario del vendedor #
- SKU0470215
- Título
- VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
- Autor
- Wang, Laung-Terng; Wu, Cheng-Wen; Wen, Xiaoqing; Abdel-Hafez, Khader S. [Contributor]; Bhattacharya, Soumendu [Contributor]; Chatterjee, Abhijit [Contributor]; Chen, Xinghao [Contributor]; Cheng, Kwang-Ting (Tim) [Contributor]; Eklow, William [Contributor
- Formato/Encuadernación
- Tapa dura
- Estado del libro
- Usado - Good
- Cantidad disponible
- 2
- ISBN 10
- 0123705975
- ISBN 13
- 9780123705976
- Editorial
- Morgan Kaufmann
- Lugar de publicación
- U.s.a.
- Fecha de publicación
- 2006-07-21
- X weight
- 63 oz
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