Descripción:
San Diego, California, U.S.A.: Academic Press, Inc., 1989. Cover and contents in very good clean condition. Mild age spotting to top of page block. Library stamp on FEP, title page and BEP. Black cover with gilt lettering to spine and upper board.. First Edition, First Printing. hardcover. Very Good/No Dust Jacket. Ex-Library.
Foto de archivo: la portada puede ser diferente
Atom-Probe Field Ion Microscopy and Its Applications (Advances in Electronics & Electron Physics Supplement) Unknown - 1989
de Sakurai, Toshio
Detalles
- Título Atom-Probe Field Ion Microscopy and Its Applications (Advances in Electronics & Electron Physics Supplement)
- Autor Sakurai, Toshio
- Encuadernación unknown
- Edición First Edition, F
- Editorial Academic Pr, San Diego, California, U.S.A.
- Fecha de publicación 1989-02
- ISBN 9780120145829
Más ejemplares
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Atom-Probe Field Ion Microscopy and Its Applications (Advances in Electronics and Electron Physics. Supplement; 20)
de Sakurai, Toshio; Sakai, A.; Pickering, H.W.
- Usado
- very good
- Tapa dura
- First
- Estado
- Usado - Very Good
- Edición
- First Edition, First Printing
- Encuadernación
- Hardcover
- ISBN 10 / ISBN 13
- 9780120145829 / 0120145820
- Cantidad disponible
- 1
- Librería
-
Didcot, Oxfordshire, United Kingdom
- Precio
-
EUR 44.46EUR 11.24 enviando a USA
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