Descripción:
Springer. Very Good. 1999. Hardcover. 0412145618 . This book is in very good condition; no remainder marks. It does have some cover shelfwear. Some scraping inside front cover from removal of a stubborn book plate. Inside pages are clean. ; The Springer International Series In Engineering And Computer Science, 494; 268 pages .
Foto de archivo: la portada puede ser diferente
Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques Tapa dura - 1999
de Lawrence C. Wagner (Editor)
Primera línea
Failure analysis can be defined as a diagnostic process for determining the cause of a failure.
Detalles
- Título Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques
- Autor Lawrence C. Wagner (Editor)
- Encuadernación Tapa dura
- Edición 1st
- Páginas 255
- Volúmenes 1
- Idioma ENG
- Editorial Springer
- Fecha de publicación 1999-01-31
- Ilustrado Sí
- Features Bibliography, Illustrated, Index
- ISBN 9780412145612 / 0412145618
- Peso 1.3 libras (0.59 kg)
- Dimensiones 9.48 x 6.42 x 0.87 pulgadas (24.08 x 16.31 x 2.21 cm)
- Library of Congress subjects Semiconductors - Failures, Integrated circuits - Testing
- Número de catálogo de la Librería del Congreso de EEUU 98051769
- Dewey Decimal Code 621.381
Más ejemplares
Foto de archivo: la portada puede ser diferente
Failure Analysis of Integrated Circuits : Tools and Techniques
de Wagner, Lawrence C.
- Usado
- Muy bueno
- Tapa dura
- Estado
- Usado - Very Good
- Encuadernación
- Hardcover
- ISBN 10 / ISBN 13
- 9780412145612 / 0412145618
- Cantidad disponible
- 1
- Librería
-
Pflugerville, Texas, United States
- Precio
-
EUR 13.94EUR 3.68 enviando a USA
Mostrar detalles
Precio
EUR 13.94
EUR 3.68
enviando a USA
Foto de archivo: la portada puede ser diferente
Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 494)
- Usado
- Estado
- Used - Good
- ISBN 10 / ISBN 13
- 9780412145612 / 0412145618
- Cantidad disponible
- 1
- Librería
-
Waltham, Massachusetts, United States
- Precio
-
EUR 42.29EUR 2.80 enviando a USA
Mostrar detalles
Descripción:
Springer. Used - Good. . Former Library book.. All orders guaranteed and ship within 24 hours. Your purchase supports More Than Words, a nonprofit job training program for youth, empowering youth to take charge of their lives by taking charge of a business.
Precio
EUR 42.29
EUR 2.80
enviando a USA
Foto de archivo: la portada puede ser diferente
Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques
- Usado
- Aceptable
- Tapa dura
- Estado
- Usado - Aceptable
- Encuadernación
- Hardcover
- ISBN 10 / ISBN 13
- 9780412145612 / 0412145618
- Cantidad disponible
- 1
- Librería
-
Seattle, Washington, United States
- Precio
-
EUR 46.00Envío gratuito a USA
Mostrar detalles
Descripción:
Springer, 1999. Hardcover. Acceptable. Readable copy. Pages may have considerable notes/highlighting. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.Dust jacket quality is not guaranteed.
Precio
EUR 46.00
Envío gratuito a USA
Foto de archivo: la portada puede ser diferente
Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 494)
de Wagner, Lawrence C. [Editor]
- Usado
- Tapa dura
- Estado
- Nuevo
- Encuadernación
- Hardcover
- ISBN 10 / ISBN 13
- 9780412145612 / 0412145618
- Cantidad disponible
- 1
- Librería
-
Salem, Oregon, United States
- Precio
-
EUR 55.94EUR 5.13 enviando a USA
Mostrar detalles
Descripción:
Springer, 1999-01-31. Hardcover. Like New. Binding firm, interior clean and unmarked. A nice copy.
Precio
EUR 55.94
EUR 5.13
enviando a USA
Failure Analysis of Integrated Circuits : Tools and Techniques
de Lawrence C. Wagner
- Nuevo
- Tapa dura
- Estado
- Nuevo
- Encuadernación
- Hardcover
- ISBN 10 / ISBN 13
- 9780412145612 / 0412145618
- Cantidad disponible
- 621
- Librería
-
Uxbridge, Greater London, United Kingdom
- Precio
-
EUR 171.57EUR 9.46 enviando a USA
Mostrar detalles
Descripción:
Hard Cover. New. New Book; Fast Shipping from UK; Not signed; Not First Edition; The Failure Analysis of Integrated Circuits : Tools and Techniques.
Precio
EUR 171.57
EUR 9.46
enviando a USA
Foto de archivo: la portada puede ser diferente
Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques (The Springer International Series in Engineering and Computer Science (494))
de Wagner, Lawrence C. [Editor]
- Nuevo
- Tapa dura
- Estado
- Nuevo
- Encuadernación
- Hardcover
- ISBN 10 / ISBN 13
- 9780412145612 / 0412145618
- Cantidad disponible
- 1
- Librería
-
San Diego, California, United States
- Precio
-
EUR 140.51EUR 5.08 enviando a USA
Mostrar detalles
Descripción:
Springer, 1999-01-31. Hardcover. New. New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
Precio
EUR 140.51
EUR 5.08
enviando a USA
