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Semiconductor Material and Device Characterization Tapa dura - 1998
de Dieter K. Schroder
Detalles
- Título Semiconductor Material and Device Characterization
- Autor Dieter K. Schroder
- Encuadernación Tapa dura
- Edición [ Edition: secon
- Páginas 784
- Volúmenes 1
- Idioma ENG
- Editorial Wiley-Interscience
- Fecha de publicación 1998-06
- Ilustrado Sí
- ISBN 9780471241393 / 0471241393
- Peso 2.69 libras (1.22 kg)
- Dimensiones 9.6 x 6.08 x 1.64 pulgadas (24.38 x 15.44 x 4.17 cm)
- Library of Congress subjects Semiconductors, Semiconductors - Testing
- Número de catálogo de la Librería del Congreso de EEUU 97-52094
- Dewey Decimal Code 621.381
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Semiconductor Material and Device Characterization by Dieter Schroder
de Dieter Schroder
- Usado
- Estado
- Usado
- ISBN 10 / ISBN 13
- 9780471241393 / 0471241393
- Cantidad disponible
- 2
- Librería
-
Franklin, Tennessee, United States
- Precio
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EUR 64.99EUR 3.72 enviando a USA
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Semiconductor Material and Device Characterization
de Schroder, Dieter K
- Nuevo
- Tapa dura
- Estado
- New
- Encuadernación
- Hardcover
- ISBN 10 / ISBN 13
- 9780471241393 / 0471241393
- Cantidad disponible
- 1
- Librería
-
San Diego, California, United States
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EUR 135.04EUR 5.14 enviando a USA
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Wiley-Interscience, 1998-06-17. Hardcover. New. New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
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