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Cambridge University Press, 2004-12-13. Hardcover. Very Good. 2.2883 24.8711 17.5167.
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Reflection High-Energy Electron Diffraction Tapa dura - 2004
de Ayahiko Ichimiya; Philip I. Cohen
Primera línea
Reflection high-energy electron diffraction (RHEED or R-HEED) is a technique for surface structural analysis that is remarkably simple to implement, requiring at the minimum only an electron gun, a phosphor screen, and a clean surface.
Detalles
- Título Reflection High-Energy Electron Diffraction
- Autor Ayahiko Ichimiya; Philip I. Cohen
- Encuadernación Tapa dura
- Páginas 366
- Volúmenes 1
- Idioma ENG
- Editorial Cambridge University Press
- Fecha de publicación 2004-12-13
- Ilustrado Sí
- Features Bibliography, Illustrated, Index, Table of Contents
- ISBN 9780521453738 / 0521453739
- Peso 1.95 libras (0.88 kg)
- Dimensiones 9.82 x 7.08 x 0.95 pulgadas (24.94 x 17.98 x 2.41 cm)
- Library of Congress subjects Reflection high energy electron diffraction, Thin films - Surfaces - Analysis
- Número de catálogo de la Librería del Congreso de EEUU 2004045180
- Dewey Decimal Code 530.427
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Reflection High-Energy Electron Diffraction
de Cohen, Philip I.,Ichimiya, Ayahiko
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- 9780521453738 / 0521453739
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Reflection High-Energy Electron Diffraction
de Ayahiko Ichimiya
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Hard Cover. New. New Book; Fast Shipping from UK; Not signed; Not First Edition; Reflection high-energy electron diffraction (RHEED) is the analytical tool of choice for characterizing thin films during growth by molecular beam epitaxy, since it is very sensitive to surface structure and morphology. This book serves
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de Ayahiko Ichimiya/ Philip I. Cohen
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Cambridge Univ Pr, 2004. Hardcover. New. 353 pages. 9.75x6.75x1.00 inches.
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Reflection High-Energy Electron Diffraction
de Ichimiya, Ayahiko
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Reflection High-Energy Electron Diffraction [Hardcover
de Ichimiya, Ayahiko and Cohen, Philip I.
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