Descripción:
New York, NY, U.S.A.: The Institute of Electrical and Electronic Engineers, Inc., 1995. Ex-Library. Very Good. Hardcover. 1st Edition.. W/full markings and pocket. IEEE CATALOG NUMBER 95CH35786. Will not fit in Flat Rate Priority Mail envelope. USPS Variable Rate applies for Domestic or International. Casebound, Ex-Library Size: 4to.
Foto de archivo: la portada puede ser diferente
AUTOMATIC TESTING CONFERENCE (AUTOTESTCON '95), PROCEEDINGS OF IEEE INTERNATIONAL, 8-10 August 1995, Atlanta, Georgia. Tapa dura - 1995
de IEEE
Detalles
- Título AUTOMATIC TESTING CONFERENCE (AUTOTESTCON '95), PROCEEDINGS OF IEEE INTERNATIONAL, 8-10 August 1995, Atlanta, Georgia.
- Autor IEEE
- Encuadernación Tapa dura
- Edición 1st Edition
- Editorial The Institute of Electrical and Electronic Engineers, Inc, New York, NY, U.S.A.
- Fecha de publicación 1995-01
- ISBN 9780780326224
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AUTOMATIC TESTING CONFERENCE (AUTOTESTCON '95), PROCEEDINGS OF IEEE INTERNATIONAL, 8-10 August 1995, Atlanta, Georgia.
de IEEE
- Usado
- very good
- Tapa dura
- First
- Estado
- Usado - Very Good
- Edición
- 1st Edition.
- Encuadernación
- Hardcover
- ISBN 10 / ISBN 13
- 9780780326224 / 0780326229
- Cantidad disponible
- 1
- Librería
-
NEWARK, Ohio, United States
- Precio
-
EUR 39.68EUR 5.20 enviando a USA
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