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Defect & Fault-Tolerance in VLSI Systems (DFT 98) 1998 International Symposium Tapa blanda - 1998

de IEEE Computer Society; IEEE


Detalles

  • Título Defect & Fault-Tolerance in VLSI Systems (DFT 98) 1998 International Symposium
  • Autor IEEE Computer Society; IEEE
  • Encuadernación Tapa blanda
  • Páginas 325
  • Volúmenes 1
  • Idioma ENG
  • Editorial Institute of Electrical & Electronics Enginee
  • Fecha de publicación October 1998
  • ISBN 9780818688324 / 0818688327
  • Dewey Decimal Code 621.39
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1998 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, Proceedings.

de IEEE Spencer, Regina (editor) Sipple

  • Usado
  • Muy bueno
  • Tapa blanda
Estado
Usado - Muy bueno
Edición
First Edition
Encuadernación
Paperback
ISBN 10 / ISBN 13
9780818688324 / 0818688327
Cantidad disponible
1
Librería
BALTIMORE, Maryland, United States
Puntuación del vendedor:
Este vendedor ha conseguido 5 de las cinco estrellas otorgadas por los compradores de Biblio.
Precio
EUR 102.67
EUR 4.64 enviando a USA

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Descripción:
New York: Institute of Electrical & Electronics Engineers, 1998. First Edition. Paperback. Very Good/No dust jacket. Ex research library book. The rear cover is lightly scuffed. The binding is tight. The interior pages are clean and unmarked. Electronic delivery tracking will be issued free of charge.
Precio
EUR 102.67
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1998 International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in Vlsi Systems, Dft '98 [Paperback

de Institute of Electrical and Electronics Engineers

  • Usado
  • Tapa dura
Estado
Usado
Encuadernación
Hardcover
ISBN 10 / ISBN 13
9780818688324 / 0818688327
Cantidad disponible
1
Librería
Maritime Quarter, Swansea, United Kingdom
Puntuación del vendedor:
Este vendedor ha conseguido 5 de las cinco estrellas otorgadas por los compradores de Biblio.
Precio
EUR 210.32
EUR 54.67 enviando a USA

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Descripción:
In overall good condition, no pages missing. Shipping can take between 2-6weeks for international deliveries. Hardback copies may or may not have dust jackets, please get in contact for more information.
Precio
EUR 210.32
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1998 International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in Vlsi Systems, Dft '98 [Paperback

de Institute of Electrical and Electronics Engineers

  • Usado
  • Tapa dura
Estado
Usado
Encuadernación
Hardcover
ISBN 10 / ISBN 13
9780818688324 / 0818688327
Cantidad disponible
1
Librería
Maritime Quarter, Swansea, United Kingdom
Puntuación del vendedor:
Este vendedor ha conseguido 5 de las cinco estrellas otorgadas por los compradores de Biblio.
Precio
EUR 214.74
EUR 54.67 enviando a USA

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In overall good condition, no pages missing. Shipping can take between 2-6weeks for international deliveries. Hardback copies may or may not have dust jackets, please get in contact for more information.
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