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VLSI Fault Modeling and Testing Techniques Tapa dura - 1993
de George W. Zobrist; George W. Zobrist (Editor)
Detalles
- Título VLSI Fault Modeling and Testing Techniques
- Autor George W. Zobrist; George W. Zobrist (Editor)
- Encuadernación Tapa dura
- Páginas 208
- Volúmenes 1
- Idioma ENG
- Editorial Bloomsbury Publishing PLC
- Fecha de publicación 1993-01-01
- Ilustrado Sí
- ISBN 9780893917814 / 0893917818
- Peso 0.91 libras (0.41 kg)
- Dimensiones 8.5 x 5.5 x 0.63 pulgadas (21.59 x 13.97 x 1.60 cm)
- Número de catálogo de la Librería del Congreso de EEUU 92-23433
- Dewey Decimal Code 621.395
Más ejemplares
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VLSI Fault Modeling and Testing Techniques: (VLSI Design Automation Series)
de Zobrist, George W.
- Usado
- Estado
- UsedVeryGood
- ISBN 10 / ISBN 13
- 9780893917814 / 0893917818
- Cantidad disponible
- 2
- Librería
-
Center Moriches, New York, United States
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VLSI Fault Modeling and Testing Techniques: (VLSI Design Automation Series)
de Zobrist, George W
- Nuevo
- Tapa dura
- Estado
- New
- Encuadernación
- Hardcover
- ISBN 10 / ISBN 13
- 9780893917814 / 0893917818
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- 5
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