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Electromigration In Thin Films And Electronic Devices: Materials And Reliability
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Electromigration In Thin Films And Electronic Devices: Materials And Reliability Tapa dura - 2011

de Kim C-U


Detalles

  • Título Electromigration In Thin Films And Electronic Devices: Materials And Reliability
  • Autor Kim C-U
  • Encuadernación Tapa dura
  • Edición INTERNATIONAL ED
  • Páginas 340
  • Idioma ENG
  • Editorial Woodhead Publishing, Cambridge
  • Fecha de publicación 2011
  • ISBN 9781845699376
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Electromigration in Thin Films and Electronic Devices
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Electromigration in Thin Films and Electronic Devices

  • Usado
  • Tapa dura
Estado
Used
Encuadernación
Hardcover
ISBN 10 / ISBN 13
9781845699376 / 1845699378
Cantidad disponible
1
Librería
Woodside, New York, United States
Puntuación del vendedor:
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Precio
EUR 187.93
EUR 3.78 enviando a USA

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Descripción:
Woodhead Publishing Limited , pp. xiii + 340 . Hardback. Used.
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de Kim C-U

  • Nuevo
  • Tapa dura
Estado
Brand New
Encuadernación
Hardcover
ISBN 10 / ISBN 13
9781845699376 / 1845699378
Cantidad disponible
1
Librería
New Delhi, India
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Precio
EUR 298.70
Envío gratuito a USA

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Descripción:
United States: Woodhead Publishing, 2011. Hardbound. Brand New. Book Condition:- Brand New. Secured Packaging. Fast DeliveryBookseller Inventory # 9781845699376
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de Kim C-U

  • Nuevo
  • Tapa blanda
Estado
New
Encuadernación
Paperback
ISBN 10 / ISBN 13
9781845699376 / 1845699378
Cantidad disponible
200
Librería
New Delhi, Andaman and Nicobar Islands, India
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Precio
EUR 419.80
EUR 14.19 enviando a USA

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Descripción:
Woodhead Publishing, 2011. Paperback. New.
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EUR 419.80
EUR 14.19 enviando a USA
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  • Nuevo
  • Tapa blanda
Estado
New
Encuadernación
Paperback
ISBN 10 / ISBN 13
9781845699376 / 1845699378
Cantidad disponible
200
Librería
New Delhi, India
Puntuación del vendedor:
Este vendedor ha conseguido 2 de las cinco estrellas otorgadas por los compradores de Biblio.
Precio
EUR 419.80
EUR 14.19 enviando a USA

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Woodhead Publishing, 2011. Paperback. New.
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EUR 419.80
EUR 14.19 enviando a USA