Descripción:
Woodhead Publishing Limited , pp. xiii + 340 . Hardback. Used.
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Electromigration In Thin Films And Electronic Devices: Materials And Reliability Tapa dura - 2011
de Kim C-U
Detalles
- Título Electromigration In Thin Films And Electronic Devices: Materials And Reliability
- Autor Kim C-U
- Encuadernación Tapa dura
- Edición INTERNATIONAL ED
- Páginas 340
- Idioma ENG
- Editorial Woodhead Publishing, Cambridge
- Fecha de publicación 2011
- ISBN 9781845699376
Más ejemplares
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Electromigration in Thin Films and Electronic Devices
- Usado
- Tapa dura
- Estado
- Used
- Encuadernación
- Hardcover
- ISBN 10 / ISBN 13
- 9781845699376 / 1845699378
- Cantidad disponible
- 1
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-
Woodside, New York, United States
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Electromigration In Thin Films And Electronic Devices: Materials And Reliability
de Kim C-U
- Nuevo
- Tapa dura
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- Brand New
- Encuadernación
- Hardcover
- ISBN 10 / ISBN 13
- 9781845699376 / 1845699378
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-
New Delhi, India
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United States: Woodhead Publishing, 2011. Hardbound. Brand New. Book Condition:- Brand New. Secured Packaging. Fast DeliveryBookseller Inventory # 9781845699376
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Electromigration In Thin Films And Electronic Devices: Materials And Reliability
de Kim C-U
- Nuevo
- Tapa blanda
- Estado
- New
- Encuadernación
- Paperback
- ISBN 10 / ISBN 13
- 9781845699376 / 1845699378
- Cantidad disponible
- 200
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-
New Delhi, Andaman and Nicobar Islands, India
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Woodhead Publishing, 2011. Paperback. New.
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- ISBN 10 / ISBN 13
- 9781845699376 / 1845699378
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