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Inicio Advanced Trace Analysis de Susanta Lahiri (ISBN: 9788184870299)

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Advanced Trace Analysis Tapa dura - 2010

de Susanta Lahiri

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Información de la editorial

Written by eminent scientists, Advanced Trace Analysis, this textbook discusses plethora of topics, including using statistical approaches to verify trace element analysis data, the trace analysis techniques like ICPMS and XRF, ion beam analysis technique and the speciation analysis of uranium relevant to waste disposal and management.

Detalles

Título Advanced Trace Analysis
Autor Susanta Lahiri
Encuadernación Tapa dura
Edición First
Páginas 188
Volúmenes 1
Idioma ENG
Editorial Narosa Publishing House, New Delhi
Fecha de publicación 2010
ISBN 9788184870299 / 8184870299
Peso 1.3 libras (0.59 kg)
Dimensiones 9.45 x 7.28 x 0.6 pulgadas (24.00 x 18.49 x 1.52 cm)

Más ejemplares

Advanced Trace Analysis

de Lahiri, Susanta

Usado

Estado

UsedVeryGood

ISBN 10 / ISBN 13

9788184870299 / 8184870299

Cantidad disponible

2

Librería

Suffolk Books Inc

Center Moriches, New York, United States

Puntuación del vendedor:

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Precio

EUR 43.73

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