Descripción:
New York, NY, U.S.A.: The Institute of Electrical and Electronic Engineers, Inc., 1995. Ex-Library. Very Good. Hardcover. 1st Edition.. W/full markings and pocket. IEEE CATALOG NUMBER 95CH35786. Will not fit in Flat Rate Priority Mail envelope. USPS Variable Rate applies for Domestic or International. Casebound, Ex-Library Size: 4to.
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AUTOMATIC TESTING CONFERENCE (AUTOTESTCON '95), PROCEEDINGS OF IEEE INTERNATIONAL, 8-10 August 1995, Atlanta, Georgia.
de IEEE
- Usado
- Muy bueno
- Tapa dura
- First
- Estado
- Usado - Muy bueno
- Edición
- 1st Edition.
- Encuadernación
- Hardcover
- ISBN 10 / ISBN 13
- 9780780326224 / 0780326229
- Cantidad disponible
- 1
- Librería
-
NEWARK, Ohio, United States
- Precio
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EUR 39.79EUR 5.21 enviando a USA
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