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Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for ... / Materials Physics and Applications)
de Robert McDonald,David G. Seiler,Alain C. Diebold
- Usado
- Bien
- Estado
- Bien
- ISBN 10
- 0735404410
- ISBN 13
- 9780735404410
- Librería
-
Philadelphia, Pennsylvania, United States
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American Institute of Physics. 2007. Good. Good. CD or DVD missing. Ship within 24hrs. Satisfaction 100% guaranteed. APO/FPO addresses supported
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Detalles
- Librería
- BooksRun (US)
- Inventario del vendedor #
- 0735404410-11-1-6
- Título
- Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for ... / Materials Physics and Applications)
- Autor
- Robert McDonald,David G. Seiler,Alain C. Diebold
- Estado del libro
- Usado - Bien
- Cantidad disponible
- 1
- Edición
- 2007
- Encuadernación
- Tapa dura
- ISBN 10
- 0735404410
- ISBN 13
- 9780735404410
- Editorial
- American Institute of Physics
- Primera fecha de publicación de esta edición
- 2007-09
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