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Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nano Tapa dura - 2007 - 1st Edición
de David G. Seiler (Editor); Alain C. Diebold (Editor); Robert McDonald (Editor)
Detalles
- Título Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nano
- Autor David G. Seiler (Editor); Alain C. Diebold (Editor); Robert McDonald (Editor)
- Encuadernación Tapa dura
- Número de edición 1st
- Edición 1
- Páginas 578
- Volúmenes 1
- Idioma ENG
- Editorial American Institute of Physics
- Fecha de publicación 2007-09
- Ilustrado Sí
- ISBN 9780735404410 / 0735404410
- Peso 3.5 libras (1.59 kg)
- Dimensiones 10.89 x 8.69 x 1.43 pulgadas (27.66 x 22.07 x 3.63 cm)
- Library of Congress subjects Integrated circuits - Ultra large scale, Nanoelectronics
- Número de catálogo de la Librería del Congreso de EEUU 2007933649
- Dewey Decimal Code 621.381
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Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for ... / Materials Physics and Applications)
de Robert McDonald,David G. Seiler,Alain C. Diebold
- Usado
- Bien
- Estado
- Usado - Bien
- Edición
- 2007
- ISBN 10 / ISBN 13
- 9780735404410 / 0735404410
- Cantidad disponible
- 1
- Librería
-
Philadelphia, Pennsylvania, United States
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- Nuevo
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- Nuevo
- ISBN 10 / ISBN 13
- 9780735404410 / 0735404410
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Frontiers Of Characterization And Metrology For Nanoelectronics
de Editor-David G. Seiler; Editor-Alain C. Diebold; Editor-Robert McDonald; Editor-C. Michael Garner; Editor-Dan Herr; Editor-Rajinder P. Khosla; Editor-Erik M. Secula
- Usado
- Tapa dura
- Estado
- Usado - Fine, sealed CD, two small bumps bottom of front cover, text unmarked
- Encuadernación
- Hardcover
- ISBN 10 / ISBN 13
- 9780735404410 / 0735404410
- Cantidad disponible
- 1
- Librería
-
Baltimore, Maryland, United States
- Precio
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EUR 186.48EUR 4.52 enviando a USA
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Large hardback with 578 pages and sealed CD. FINE
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